仪器介绍
Nano-inXider 是表征纳米材料的理想选择
得益于在 Xeuss 2.0 中开发的独特技术，Nano-inXider更为简单易用且性能优异，由于其紧凑的设计，可轻松安装到各种实验室。
无论您是在化妆品、药物、石化、可再生能源、电子还是在复合材料行业工作，Nano-inXider 可以帮助您确定纳米结构的大小、分布、形状、比表面积，以及获取材料结晶信息。
Nano-inXider 还提供了一个综合、简单易用的数据采集、处理和分析软件套装。
它是您实验的理想选择！
Xenocs Nano-inXider一体化小角X射线散射仪（SAXS）
产品属性
品牌：Xenocs
型号： Nano-inXider
产地：法国
价格：面议
产品特点
简单易用
我们非常注重 Nano-inXider 的人体工学设计。
Nano-inXider 有一个巨大的样品环境，可用轻松访问和操纵样品。所有样品架都有一个通用连接口，可轻松更改样品环境，不需要对光路做任何重新对准。
强大的系统控制软件，只需要几次点击，强大的系统控制软件即可自动完成光路准直和自动更改系统设置，所以可以根据您的实验需求确保系统始终处于最优化的状态。
高性能
Nano-inXider 完全得益于：
Xenocs 的独特X光准直系统。
整套系统处于真空状态。
深度集成 Dectris 的最新一代混合像素探测器。
紧凑的设计
与市场上的许多其他常见分析工具一样，例如电子显微镜，Nano-inXider 有一个垂直架构。
通过此垂直架构，所有设施被完全集成到设备机身内，Nano-inXider 的占地面积小于 1 平方米！
满足多种需求
Nano-inXider 提供可用于测试固体、粉末、液体和胶体的各种样品架。可以实现不同的实验条件，例如拉伸、热台、湿度和剪切实验。Nano-inXider 还为液体样品配备了一个自动换样器。
完善、简单易用的软件套装
Nano-inXider 的独特性能还体现在，其具有一个完善、简单易用的数据采集、处理和分析软件套装。
数据采集软件操作简单易用，只需要几次点击，即可控制所有采集参数和完成多个样品的测量。
数据处理和分析软件可以轻松处理数据，并可读取实验设置参数。
no-inXider 数据处理软件通过实用的界面，可以轻松将数据转化为其他先进的软件包进行数据分析的数据，例如 ATSAS 和 SASfit。
技术参数
Nano-inXider 由于其紧凑设计、独特性能和多样的样品环境，成为当今市场上的表征纳米材料的最佳选择。
光源
微聚焦 密封管 - Cu 30W/30 µm
聚焦镜
单个多层反射光学仪可实现 二维 准直
准直
无散射准直，自动化更改设置
样品台
X-Z 台
机动化 X-Z 台，远程进行多样品分析和样品多点扫描
Phi 台
平面样本旋转，求取散射信号的方位角平均值
GISAXS 台
Omega（设定入射角）安装到 X-Z 台 的模块
样品架
样品架座
具有快速插拔设计，可快速更换样品架
液体样品
毛细管架（可同时放6个毛细管）
毛细管流通池
低噪流通池
固体样品
固体样品架（可同时放16个），用于粉末和固体样品
大物件样品架
薄膜
薄膜透射样品架
GISAXS 样品架
控温装置
Linkam HFSX350 热台，可用于透射和 GISAXS
温度范围：-196 - +350°C
拉伸装置
Linkam TST350 拉伸台，带温控
拉力范围 0.01N - 20N 或 0.1 - 200N
液体自动进样器
自动注入多个样品
探测器
SAXS
Dectris Pilatus3 混合像素探测器
WAXS
Dectris Pilatus3 混合像素探测器，可同时并连续进行 SAXS 和 WAXS 测量，2θ高达60°。
分辨率和 Q 范围
qmin (nm-1)
q 最大值 (nm-1)
d 最小值
qmax
Cu K-α
0.029
41.30
0.15
216.66
软件
具有图形化用户界面的软件进行系统控制和数据采集。
数据处理和分析软件
设备
功耗
< 3000W
占地总面积
87 cm x 93 cm（宽 x 长），高 240 cm
所有设施都位于外壳内
重量
520 kg
