通过不同照明与探测技术的光学观测（例如明场，暗场，偏振，荧光等），用户可以轻易地选定感兴趣的区域来进行 AFM 测试。通过简单地旋转物镜转轮，用户可以在传统显微镜与 AFM 模式间快速切换。
WITec 的 AFM 物镜可直接观测样品与悬臂梁针尖， 实现直观的精准探针定位。alpha300A 系统配备极度线性且精确的电容反馈控制扫描台 (TrueScan™ 技术)，实现整个扫描范围上超高的精度控制。
悬臂梁与样品的同时观察有助于便捷的确定测试位置
WITec 的AFM物镜允许从上方同时清楚的观测到样和悬臂梁，便于AFM的探针准直与微小样品结构的定位。
（A）同时观测探针悬臂梁与样品
（B）光学图像与AFM图像的叠加（AFM图像：AC模式，扫描范围：3*3μm2）
（C）B 中AFM三维图像
AFM模式
接触模式：
样品扫描时域探针直接接触，通过悬臂梁的倾斜及角度来记录表面形貌。
AC（TappingTM 轻敲模式）
又称间歇接触式。悬臂梁以其共振频率振动，不与样品接触，该模式特别适用于易损样品。当探针接近样品表面，样品与探针的相互作用对悬臂梁施加力从而改变其振动频率。
抬高模式（Lift ModeTM）：
抬高模式可与接触或者AC模式结合使用。样品先通过其他的成像模式被扫描一次，然后使用抬高模式，在之前记录的样品轮廓基础上，将探针与样品保持一个恒定的距离在扫描一次。
数字脉冲力模式（DPFM）
磁力显微镜（MFM）
测量样品上磁场的一种非接触模式
静电力显微镜
测量静电力显微镜
记录并描绘间歇（轻敲）
模式中的相位偏移型号
纳米操纵/压抑
开尔文探针显微镜
表面势测量
横向卢显微镜（LFM）
揭示表面摩擦特性的一种接触模式
化学力显微镜
测量范德华力等化学相互作用的接触或间歇模式
其他模式可选
