广州贝拓科学技术有限公司

薄膜厚度测量系统Delta

产品属性

产地：中国

仪器介绍

Delta薄膜厚度测量系统利用薄膜干涉光学原理，对薄膜进行厚度测量及分析。用从深紫外到近红外可选配的宽光谱光源照射薄膜表面，探头同位接收反射光线。Delta根据反射回来的干涉光，用反复校准的算法快速反演计算出薄膜的厚度。测量范围1nm-3mm，可同时完成多层膜厚的测试。对于100nm以上的薄膜，还可以测量n和k值。

产品特点

薄膜厚度测量系统Delta

产品特点

快速、准确、无损、灵活、易用、性价比高

薄膜厚度测量系统Delta

产品属性

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技术参数