仪器介绍
近红外荧光寿命测量系统具有亚纳秒到皮秒的时间分辨率的近红外（650—1700 nm）荧光寿命测量系统。
近红外荧光寿命测量系统型能在传统探测器困难的近红外波段实现亚纳秒的时间分辨率的荧光寿命测量。由于标准结构可以测量荧光谱，光谱被校正后就可能进行荧光寿命的测量。
产品特点
特性
●采用标准结构测量荧光谱
●600 或300 ps时间分辨率（仅限探测器，根据不同的型号）
●液氮制冷型
测量示例
技术参数
| 产品图像 | 产品型号 | 产品名称 | 测量波长范围 | 制冷方式 | 探测器时间分辨率 |
|
C7990-01 | 近红外荧光寿命测量系统 | 650 nm 到 1400 nm | 液氮制冷 (制冷时间：约 2 h) | 约 600 ps |
|
C7990-11 | 近红外荧光寿命测量系统 | 950 nm 到 1400 nm | 热电制冷(制冷时间：约30 min) | 约 300 ps |
| 型号 | C7990-11 | C7990-01 |
| 激发光源 | C8597-01 (YAG激光器单元) | C8597-01 (YAG激光器单元) |
| 激发波长 | 1064 nm | 1064 nm |
| 输出功率 | >75 mW | >75 mW |
| 脉冲宽度 | <1.3 ns | <1.3 ns |
| 重复率 | 15 kHz | 15 kHz |
| 测量波长范围 | 950 nm 到 1400 nm | 650 nm 到 1400 nm |
| 制冷方式 | 热电制冷(制冷时间：约30 min) | 液氮制冷 (制冷时间：约 2 h) |
| 测量时间范围 | 2.5 ns 到 50 μs/full scale | 2.5 ns 到 50 μs/full scale |
| 时间轴通道数 | 512 ch，1024 ch，2048 ch，4096 ch | 512 ch，1024 ch，2048 ch，4096 ch |
| 探测器时间分辨率 | 约 300 ps | 约 600 ps |
| 系统时间分辨率 | ＜1.4 ns (FWHM of IRF*) | ＜1.4 ns (FWHM of IRF*) |
| 分析功能 | 最大值处3组分的多指数拟合 | 最大值处3组分的多指数拟合 |
| 分析方式 | 激光器和衰减曲线的手动拟合 | 激光器和衰减曲线的手动拟合 |
|
*IRF: Instrumental Response Function （仪器响应函数）
|
||
